923665-18詳細規格
- 類別：測試夾 - IC
- 描述：18-PIN TEST CLIP GOLD SOIC .30"
- 系列：923
- 制造商：3M
- 類型：SOIC，0.30" 主體
- 位置或引腳數目（柵極）：18（2 x 9）
- 觸點表面涂層：金
- 觸點材料：銅合金
- 陶瓷 TDK Corporation 0603（1608 公制）寬（長側）0306（0816 公制） CAP CER 0.1UF 16V 10% X7R 0603
- 測試夾 - IC 3M 24-PIN TEST CLIP ALLOY SOIC .30"
- 連接器，互連器件 ITT Cannon CONN PLUG 5POS RT ANG W/PINS
- 連接器，互連器件 ITT Cannon CONN PLUG 4POS RT ANG W/PINS
- 連接器，互連器件 ITT Cannon CONN PLUG 6POS RT ANG W/PINS
- 陶瓷 TDK Corporation 0603（1608 公制）寬（長側）0306（0816 公制） CAP CER 2.2UF 4V 20% X7S 0603
- 網絡、陣列 Bourns Inc. 0804（2010 公制），凸起 RES ARRAY 10 OHM 4 RES 0804
- 單二極管/齊納 NXP Semiconductors TO-236-3，SC-59，SOT-23-3 DIODE ZENER 30V 250MW SOT23
- 陶瓷 Kemet 0805（2012 公制） CAP CER 0.1UF 50V Z5U 0805
- 陶瓷 TDK Corporation 0603（1608 公制）寬（長側）0306（0816 公制） CAP CER 0.47UF 4V 10% X7S 0603
- 連接器，互連器件 ITT Cannon CONN PLUG 9POS RT ANG W/PINS
- 網絡、陣列 Bourns Inc. 0804（2010 公制），凸起 RES ARRAY 10 OHM 4 RES 0804
- 單二極管/齊納 NXP Semiconductors TO-236-3，SC-59，SOT-23-3 DIODE ZENER 3V 250MW SOT23
- 陶瓷 Kemet 0805（2012 公制） CAP CER 0.1UF 50V Z5U 0805
- 測試夾 - IC 3M 28-PIN TEST CLIP GOLD SOIC .30"
0755-83223003 
